ZT系列綜合試驗(yàn)箱

一、產(chǎn)品用途

ZT系列綜合試驗(yàn)箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶(hù)對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。

二、特點(diǎn)

ZT系列綜合試驗(yàn)箱具有極寬大的溫濕度控制范圍，可滿(mǎn)足用戶(hù)的各種需要采用平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱加濕性能，可進(jìn)行高精度、高溫度的溫濕度控制。裝備高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器，溫濕度采用彩色液晶觸摸顯示屏，可進(jìn)行各種復(fù)雜的程序設(shè)定，程序設(shè)定采用對(duì)話(huà)方式，操作簡(jiǎn)單、迅速。制冷回路自動(dòng)選擇，自控裝置具有隨溫度的設(shè)定值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的性能，實(shí)現(xiàn)高溫度狀態(tài)下的直接啟動(dòng)制冷，直接降溫。

三、滿(mǎn)足條件

GB/T5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢定方法

GB10592.2-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB105589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-1989 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 (IEC68-2-1)試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 (IEC68-2-2)試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法

GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)

GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn)

GB/T2423.3-2001 恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)方法

GBT2423.4-1993 交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.102-2008和JJG190-97《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KC：高溫試驗(yàn)方法、低溫試驗(yàn)方法、濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)方法》以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。

GB/T3310-91 GB/2423,10-81 JJG190-97 IEC68-2-6(FC) CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…

四、選型

ZT-CTH-150L　   W50×H60×D50 cm           (寬×高×深)
ZT-CTH-225L　   W60×H75×D50 cm           (寬×高×深)
ZT-CTH-306L　   W60×H85×D60 cm           (寬×高×深)

ZT-CTH-408L 　   W60×H85×D80 cm          (寬×高×深)

ZT-CTH-800L　    W100×H100×D80 cm      (寬×高×深)

ZT-CTH-1000L   　 W100×H100×D100 cm     (寬×高×深)

五、主要參數(shù)

1.溫度范圍：0/-20/-40/-50/-60/-70~+150℃（供選擇）。

2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃。

3.分布均勻度：±1.5℃。

4.溫度偏差：≤±2℃。

5.正常升溫時(shí)間：常溫RT+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。

6.正常降溫時(shí)間：常溫RT+20~-40℃小于60分鐘非線性空載。

7.濕度范圍：20％~98％RH~(10％~98％RH/5％~98％RH供特殊測(cè)試條件選擇)。

8.濕度波動(dòng)度：±1％RH。

9.濕度均勻度：±3.0％RH。